三綜合式試驗(yàn)箱 三綜合試驗(yàn)箱結(jié)合溫度、濕度、振動(dòng)功能于一體，適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诰C合的惡劣環(huán)境下檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。 三綜合試驗(yàn)箱主要為航天、航空、石油、化工、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，同時(shí)可在試驗(yàn)箱內(nèi)將電振動(dòng)應(yīng)力按規(guī)定的周期施加到試品上，供用戶對整機(jī)（或部件）、電器、儀器、材料等作溫濕度、振動(dòng)綜合應(yīng)力篩選試驗(yàn)，以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u價(jià)。與單一因素作用相比，更能真實(shí)地反映電工電子產(chǎn)品在運(yùn)輸和實(shí)際使用過程中對溫濕度及振動(dòng)復(fù)合環(huán)境變化的適應(yīng)性，暴露產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制、樣機(jī)試驗(yàn)、產(chǎn)品合格鑒定試驗(yàn)全過程的重要試驗(yàn)手段。 三綜合式試驗(yàn)箱 節(jié)能技術(shù)：傳統(tǒng)設(shè)備低溫控制方式：制冷壓縮機(jī)啟?？刂茰囟龋囟炔▌?dòng)大、嚴(yán)重影響壓縮機(jī)壽命，已淘汰的技術(shù)）制冷壓縮機(jī)恒定運(yùn)行+加熱PID控制（導(dǎo)致制冷量與加熱相抵消實(shí)現(xiàn)溫度動(dòng)態(tài)平衡，浪費(fèi)了大量的電能）新型PWM冷控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)低溫節(jié)能運(yùn)行：低溫工作狀態(tài)，加熱器不參與工作。 技術(shù)規(guī)格： 型號 | SE-XT600 | SE-XT1200 | SE-XT2200 | 工作室尺寸（mm） | 800×800×950 | 1100×1100×950 | 1400×1400×1100 | 外形尺寸（mm） | 1220×2890×2150 | 1525×3590×2150 | 1825×3950×2300 | 垂直有孔底板大尺寸（mm） | Max.?710 | Max.?1000 | Max.?1280 | 水平有孔底板大尺寸（mm） | Max.700*700 | Max.1000*1000 | Max.1200*1200 | 性 能 | 溫度范圍 | +100℃/+150℃/+180℃～-40℃/-70℃ | 溫度均勻度 | ＜2℃ | 溫度偏差 | ±2℃ | 溫度波動(dòng)度 | ＜1℃（＜±0.5℃,按GB/T5170-1996表示） | 溫度速率 | 5℃/ min~40℃/ min（選型） | 濕度范圍 | 10～95%RH(98%RH與盲板一起使用時(shí)) | 濕度偏差 | ±3%(＞75%RH), ±5%(≤75%R上) | 露點(diǎn)溫度范圍 | ﹢4℃～﹢94（與盲板一起使用時(shí)）﹢4℃～﹢59（與垂直有孔底板使用時(shí)）﹢4℃～﹢40（與水平有孔底板使用時(shí)） | 低溫系統(tǒng)適應(yīng)性 | *的設(shè)計(jì)滿足全溫度范圍內(nèi)壓縮機(jī)自動(dòng)運(yùn)行 | 制冷系統(tǒng) | 制冷壓縮機(jī) | 進(jìn)口全封閉壓縮機(jī) | 冷卻方式 | 水冷選配 |
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